奥地利微电子推出采用DAEC技术的磁性位置传感器

7月14日,奥地利微电子在北京宣布，推出采用DAEC（动态角度误差补偿）技术的AS5047D、AS5147和AS5247磁性位置传感器。适于电机控制和角度位置测量。

AS5047D面向机器人和编码器模块应用。AS5147/5247均符合AEC-Q100认证，面向汽车转向、传动、刹车制动器、引擎进气阀等应用。其中5247是互为备份的双芯片结构，可满足功能安全更高的要求。

奥地利微电子高级市场经理Oliver Weber表示，正在申请的DAEC专利技术可消除由100～200s传播延迟导致的测量误差，将动态角度误差几乎降低至零（见图1）。

图1 DAEC专利技术可消除由100～200s传播延迟导致的测量误差，将动态角度误差几乎降低至零。

传统磁性旋转位置传感器芯片需要将其嵌入式磁性元件中磁场强度的原始测量信息转换为数字角度测量结果，这样会导致传播延迟。延迟期间，由于离心器的角位移发生变化，当数字输出时，其实际位置与传感器所测量的位置将会产生误差。

上述误差会随着转速增加呈线性增长。例如，对于100s的传播延迟，在1000rpm转速下，其动态角度误差为1.2°，而10000rpm转速下的误差将高达12°。

DAEC技术的独特算法能动态地补偿每个测量样本被捕捉时的转速。例如，在7000rpm转速下，47系列磁性位置传感器的角度测量误差为0.08°，12000rpm转速下的误差为0.14°，14500rpm转速下的误差不到0.17°（不含非线性积分）。

在高速无刷直流电机（BLDC）和永磁同步电机（PMSM）中，47系列传感器芯片的高精度有助于换相控制方案的实施，提高转矩和效率，降低转矩脉动。

AS5047D、AS5147和AS5247有绝对位置测量的PWM输出；磁场定向控制的换相方案所需的UVW输出；及相当于一个光学编码器输出的增量ABI输出，不用改变主机系统的MCU或DSP的软件接口，AS5047D芯片即可取代光学编码器。

数字SPI输出提供14位高分辨率（0.022°），及十进制模式中2000步/转的最高分辨率，二进制ABI模式中最高分辨率2048步/转。

Oliver还表示，微分传感技术可使设备不受杂散磁场的影响（见图2），无需任何防护措施即可应用在电嘈杂环境中。

图2 微分传感技术可使设备不受杂散磁场的影响。图中下部为4个霍尔传感器。

AS5047D采用14引脚TSSOP封装，千片批量价格4.21美元。AS5147采用14引脚TSSOP封装，AS5247采用7mmx7mm的MLF-40封装。（记者 恩平）

（责任编辑：HN666）

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